برگشت به شبکه آزمایشگاههای تحقیقاتی دانشگاه علم و صنعت ایران    [صفحه اصلی ]   [ English ]   بخش‌های اصلی صفحه اصلی معرفی آزمایشگاه پیام مدیر تجهیزات آنالیز حرارتی همزمان (STA) میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) اندازه گیری سطح ویژه (BET) و آنالیز جذب و دفع شیمیایی تخلخل سنج هلیوم دستگاه خستگی محوری، کشش و فشار 5 تن دستگاه اندازه گیری کشش سطحی به روش قطره چرخان اندازه گیری کشش سطحی به روش قطره آویزان اندازه گیری تراوایی نسبی مایع- مایع به روش ناپایا سری دستگاه های برش، آماده سازی و شستشوی مغزه بررسی رفتار فازی سیال (PVT) پتانسیو/گالوانواستات اندازه گیری هدایت الکتریکی غشاهای پلیمری اندازه گیری زاویه تماس و کشش سطحی آنالیز کالریمتری تفاضلی روبشی DSC دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF اندازه گیری هدایت الکتریکی غشاهای پلیمری دستگاه مانت گرم با سیستم آبگرد آزمون سختی سنجی تعرفه خدمات پذیرش غیر حضوری فرم درخواست ثبت آزمون راهنمای پرداخت هزینه آزمون اخبار تماس با ما شبکه آزمایشگاهی فناوری های راهبردی جستجو در پایگاه جستجوی پیشرفته دریافت اطلاعات پایگاه نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه، در کادر زیر وارد کنید. راه اندازی دستگاه XRF  | تاریخ ارسال: 1396/11/25 |    با عنایت معاون محترم پژوهش و فناوری دانشگاه، دستگاه XRF دانشگاه پس از 10 سال در آزمایشگاه مرجع مرکزی مجددا نصب و راه اندازی شد. این دستگاه مدل PW1480 ساخت شرکت فیلیپس هلند است و توانایی انجام انالیز مواد معدنی به صورت کیفی و نیمه کمی را دارد.   دفعات مشاهده: 2520 بار   |   دفعات چاپ: 453 بار   |   دفعات ارسال به دیگران: 0 بار   |   0 نظر     سایر مطالب این بخش نسخه قابل چاپ ارسال به دوستان Persian site map - English site map - Created in 0.12 seconds with 45 queries by YEKTAWEB 4741